是 Bug 吗?基于 N-gram IDF 的缺陷报告分类
软件工程
2017-09-19 v1
摘要
以往的研究发现,大量缺陷报告在缺陷与非缺陷之间被误分类,并且人工分类缺陷报告是一项耗时的任务。为了解决这个问题,我们提出了一种基于 N-gram IDF 的缺陷报告分类模型,N-gram IDF 是逆文档频率(IDF)在处理任意长度词和短语时的理论扩展。N-gram IDF 使我们能够从文本中提取任意长度的关键术语,这些关键术语可用作分类缺陷报告的特征。我们使用来自 N-gram IDF 和主题建模(在各种软件工程任务中被广泛使用)的特征,构建了基于逻辑回归和随机森林的分类模型。利用一个公开可用的数据集,我们的结果表明,基于 N-gram IDF 的模型在所有评估案例上的性能均优于基于主题的模型。我们的模型展现了有前景的结果,并具有扩展到其他软件工程任务的潜力。
引用
@article{arxiv.1709.05763,
title = {Bug or Not? Bug Report Classification Using N-Gram IDF},
author = {Pannavat Terdchanakul and Hideaki Hata and Passakorn Phannachitta and Kenichi Matsumoto},
journal= {arXiv preprint arXiv:1709.05763},
year = {2017}
}
备注
5 pages, ICSME 2017