O VI 中辐射跃迁的分支比

我们利用相对论耦合簇理论研究了 O VI 前几个 (9 个) 精细结构能级之间允许和禁戒辐射跃迁的分支比。我们发现 $n\le4$ 的 $n$-复数内许多跃迁存在不规则模式。我们使用现有的允许电偶极 ($E1$) 跃迁值作为我们理论的基准。与现有值的良好一致性不仅确立了理论方法的准确性，也确立了基函数的准确性。一般而言，电四极 ($E2$) 跃迁概率的幅值大于磁偶极 ($M1$) 跃迁概率，而对于中等原子跃迁频率，它们具有相同的数量级。另一方面，如果涉及的跃迁发生在同一谱项的两个精细结构分量之间，则 $M1$ 跃迁概率比 $E2$ 更大概率发生。我们通过物理论证和数量级估计分析了这些趋势。此处以表格和图形形式呈现的结果与现有的理论和观测数据进行了比较。图形分析有助于理解此处所示衰变通道的电跃迁和磁跃迁趋势。我们计算的激发态寿命值与现有结果非常吻合。