普朗克之后对极低再热情形的约束

我们考虑极低再热情形($T_{\rm RH}\sim\mathcal{O}({\rm MeV})$)，并改进了遗迹中微子背景（含三味振荡）产生的计算。在95%置信水平下，由大爆炸核合成得到再热温度的下限 $T_{\rm RH}>4.1$ MeV，而对于极轻($\sum m_i = 0.06$ eV)中微子，由普朗克数据得到 $T_{\rm RH}>4.3$ MeV。若允许中微子质量变化，普朗克数据给出 $T_{\rm RH}>4.7$ MeV，这是迄今对再热温度最严格的界限。对于极低再热温度，中微子质量可高达1 eV。