基于X射线过电压法测定窄线塞尔西1号银河系黑洞质量
天体物理学
2007-05-23 v1
摘要
我们基于X射线过电压估算窄线塞尔西1号银河系（NLS1） galaxies 中的黑洞质量。我们应用适用于宽线塞尔西1号银河系（BLS1） galaxies 的标准方法。总体而言，我们发现获得的质量值相对于其他方法（驻波、星际位移）小约一个数量级。然而，我们的NLS1对象中有一小部分不需要乘以该因子，或校正因子小于4。我们发现，这些对象具有较小的软X射线光子指数，Γ_{0.1-2.4 keV} < 2。我们因此假设，这些NLS1子类实际上属于BLS1。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0612376,
title = {Black hole masses in NLS1 galaxies from the X-ray excess variance method},
author = {M. Nikolajuk and P. Gurynowicz and B. Czerny},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0612376},
year = {2007}
}
备注
2 pages, 2 figurs, Conference proceedings to appear in "The Central Engine of Active Galactic Nuclei", ed. L. C. Ho and J.-M. Wang (San Francisco: ASP), (October 16-21, 2006, Xi'an, China)