基于AGN X射线变率测量的黑洞质量估计

我们提出一种基于归一化剩余方差 $\sigma_{nxs}^2$ 估计AGN中黑洞质量的新方法。我们推导了 $\sigma_{nxs}^2$、观测长度 T、光曲线 bin 大小 $\Delta t$ 与黑洞质量之间的关系，假设满足以下条件：(i) 高频 breaks 之上的功率谱具有 -2 的斜率，(ii) 高频 breaks 随黑洞质量而比例，(iii) 功率谱�幅（在“频率×功率”空间中）是普适的，且(iv) 当观测长度 T < 1/f_{bf} 时计算 $\sigma_{nxs}^2$。使用该方法得到的AGN黑洞质量值与基于其他技术（如再映射或Mbh-星际速度分离关系）所得结果一致。该方法在形式上等同于基于功率谱随质量比例的技术，但采用归一化剩余方差具有显著优势：即其适用于相对较差质量的数据。