用于原子阱痕量分析的亚稳态氩双色力
原子物理
2017-08-02 v1
摘要
为了实现高效的原子阱痕量分析（Atom Trap Trace Analysis），对从泻流源发出的粒子进行准直十分重要。其高速度限制了与冷却激光的相互作用时间。因此需要超越散射力极限的力。双色力（bichromatic force）是实现此目的的一个有前景的候选者，本文首次在亚稳态氩-40上进行了演示。对预准直原子进行一维探测，并通过吸收光谱检测获得的 Doppler 频移。在实验可实现的参数下，测得力为散射力的三倍强。关于其对拉比频率、相位差和原子共振失谐依赖性的系统研究，与光学布洛赫方程解进行了比较。我们预期了在氩-39的原子阱痕量分析和其他需要高通量亚稳态原子的惰性气体实验中的可能应用预测。
引用
@article{arxiv.1707.01658,
title = {Bichromatic force on metastable Argon for Atom Trap Trace Analysis},
author = {Zhongyi Feng and Sven Ebser and Lisa Ringena and Florian Ritterbusch and Markus K. Oberthaler},
journal= {arXiv preprint arXiv:1707.01658},
year = {2017}
}
备注
7 pages, 8 figures