基于半色调网点工艺的带限日冕仪：II. 针对任意望远镜孔径的进展与实验室结果
天体物理仪器与方法
2015-06-03 v1
摘要
带限日冕仪是一种近乎理想的概念，理论上能够完美消除轴上光源的所有光线。过去几年中，已有多个原型在实验室中开发和测试，目前重点转向开发能够高效实现此类概念预期高对比度水平的最优技术。继早期近红外演示器之后，我们展示并讨论了采用半色调网点技术的第二代原型的结果。我们报告了所制造原型的局部透射率控制精度的提升，测量结果显示其误差小于1%。这一先进的H波段带限器件在实验室中展现了出色的对比度水平，在大于3 λ/D的角间距上、24%的光谱带宽内达到了10^{-6}量级。这些性能比我们前一代原型提升了一个数量级以上，证实了制造工艺的成熟度。当前和下一代高对比度仪器可直接受益于这些能力。在此背景下，我们通过实验检验了带限日冕仪应对各种复杂望远镜孔径的能力。
引用
@article{arxiv.1111.6956,
title = {Band-Limited Coronagraphs using a halftone-dot process: II. Advances and laboratory results for arbitrary telescope apertures},
author = {P. Martinez and C. Dorrer and M. Kasper},
journal= {arXiv preprint arXiv:1111.6956},
year = {2015}
}
备注
Accepted in ApJ - under press