无序固体中光电子发射的阿秒条纹测量
光学
2014-10-22 v1
摘要
极紫外光发射的光电子的阿秒条纹测量已开始揭示电子在简单晶体固体内部传输过程中的行为。然而，纳米等离激元学、薄膜物理和半导体物理中的许多样品类型并不具有简单的单晶结构。支撑等离激元纳米结构和宽带隙半导体光学响应的电子动力学发生在阿秒时间尺度上。利用阿秒条纹测量这些动力学将使此类系统能够针对超快光电子学等领域的应用进行专门定制。我们表明，通过对宽带隙半导体三氧化钨的非晶薄膜和多晶金（一种构成许多纳米等离激元器件基础的材料）进行条纹测量，可以将条纹技术扩展到这非常普遍类型的样品。我们的测量揭示了样品表面的近场时间结构，以及与到达表面的电子传输时间分布一致的光电子波包时间展宽。
引用
@article{arxiv.1410.5613,
title = {Attosecond streaking of photoelectron emission from disordered solids},
author = {W. A. Okell and T. Witting and D. Fabris and C. A. Arrell and J. Hengster and S. Ibrahimkutty and A. Seiler and M. Barthelmess and S. Stankov and D. Y. Lei and Y. Sonnefraud and M. Rahmani and Th. Uphues and S. A. Maier and J. P. Marangos and J. W. G. Tisch},
journal= {arXiv preprint arXiv:1410.5613},
year = {2014}
}