Astro2020行业白皮书：强度干涉测量现状
天体物理仪器与方法
2019-08-01 v1 太阳与恒星天体物理
摘要
望远镜设计、光电探测器效率以及高速电子数据记录与同步方面的最新进展，创造了一种观测能力，可通过现代实现的恒星强度干涉测量（SII）对数千颗明亮（m< 6）且炽热（O/B/A）的恒星实现前所未有的角分辨率。该技术若部署于未来大口径光学望远镜阵列，能够以优于40 {\mu}角秒的角分辨率对天体进行成像。本文描述了在实验室中使用各种光学传感器和相关器对SII技术的验证测试，以及最近作为技术演示完成的针对邻近恒星的SII测量。本文描述了将在未来十年推进SII影响与仪器分辨率的正在进行和未来的发展。
引用
@article{arxiv.1907.13181,
title = {Astro2020 White Paper State of the Profession: Intensity Interferometry},
author = {David B. Kieda and Gisela Anton and Anastasia Barbano and Wystan Benbow and Colin Carlile and Michael Daniel and Dainis Dravins and Sean Griffin and Tarek Hassan and Jamie Holder and Stephan LeBohec and Nolan Matthews and Theresa Montaruli and Nicolas Produit and Josh Reynolds and Roland Walter and Luca Zampieri},
journal= {arXiv preprint arXiv:1907.13181},
year = {2019}
}
备注
Submitted to the Astro 2020 Decadal Survey as APC Status of the Profession White Paper (July 10, 2019)