评估宽带仪器噪声对参数调制超导量子比特的影响

超导transmon量子比特作为量子信息处理的 promising 平台，可通过AC信号经由通过其SQUID环的磁通量调制可调transmon的频率来执行双量子比特门。然而，频率可调性引入了由磁涨落引起的额外退相干机制。本工作中，我们实验研究仪器噪声对磁通不稳定性的贡献以及由此产生的参数激活双量子比特门的错误率。具体而言，我们在通过磁通控制通道注入宽带噪声的同时测量磁通调制下的量子比特相干时间。我们使用与测量速率良好匹配的退相干速率模型对噪声效应建模，并借此规定实现所需双量子比特门保真度不足所需噪声基底。最后，我们证明在基频与二次谐波频率之间对用于驱动双量子比特门的AC信号进行低通滤波，可降低量子比特在AC甜点（ACSS）处对磁通噪声的敏感性，证实了早前的理论预测。我们提出的用于确定高纠缠双量子比特门保真度所需仪器噪声基底的框架，应可扩展至其他量子信息处理系统。