LRG的组装偏置与本征对齐的红移演化
宇宙学与河外天体物理
2026-07-01 v1
摘要
星系的本征对齐(IA)是弱引力透镜剪切信号的主要污染源之一。对其建模的努力通常假设对齐强度仅取决于暗物质晕质量。在这项工作中,我们使用套件的2.8 Gpc盒尺寸运行来表明,对于LRG类样本,对齐幅度除了取决于暗物质晕质量外,还取决于宿主暗物质晕的形成红移。我们表明星系和暗物质晕的组装历史影响对齐信号。在修正其质量演化后,我们发现形成更早的暗物质晕具有更高的对齐幅度,其中心星系也是如此。我们还通过在不同模拟快照处用质量幂律拟合幅度来探索对齐信号的红移演化。我们发现该幂律的幅度随红移稳步增加,而斜率随红移减小直到,然后趋于平坦。我们提供了一个在模拟上拟合的经验质量-红移本征对齐模型。此外,通过跨快照追踪中心星系,我们表明对齐信号随红移的变化超出了与质量变化相关的部分,并且从更高红移追踪的星系具有更大的幅度。我们的结果表明,弱透镜巡天中的IA建模不能有任意小的先验范围,并使基于HOD的对齐模型在仅引力模拟中的实现复杂化。它们还为观测研究中的IA红移演化模型提供了基于模拟的指导。
引用
@article{arxiv.2607.00785,
title = {Assembly bias and the redshift evolution of intrinsic alignments for LRGs},
author = {A. Herle and N. E. Chisari and H. Hoekstra and D. Neumann},
journal= {arXiv preprint arXiv:2607.00785},
year = {2026}
}