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超越奈奎斯特极限的抗混叠超表面

光学 2024-06-18 v1 应用物理

摘要

采样是超表面设计中的关键要素,能够实现广泛的应用。尽管采样具有灵活性,但它可能导致效率降低和意外衍射,这些问题在高数值孔径或较短波长(例如紫外光谱)下更为明显。当前主流的超表面研究通常依赖传统的奈奎斯特采样定理来评估采样的适当性,然而,我们的研究结果表明,奈奎斯特准则不足以防止衍射失真。具体来说,我们发现超表面的性能与频谱形态和采样晶格之间的几何关系显著相关。基于晶格衍射分析,我们展示了从可见光到紫外波段的几种抗混叠策略。这些方法显著减少了高数值孔径超表面中出现的混叠现象。

关键词

引用

@article{arxiv.2406.11261,
  title  = {Anti-aliased metasurfaces beyond the Nyquist limit},
  author = {Seokwoo Kim and Joohoon Kim and Kyungtae Kim and Minsu Jeong and Junsuk Rho},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2406.11261},
  year   = {2024}
}

备注

45 pages, 28 figures