二氧化硅薄膜中嵌入式银纳米颗粒的角度依赖局域表面等离激元共振
应用物理
2018-08-29 v1
摘要
通过40 keV银负离子注入获得了嵌入氧化硅中的近表面银纳米颗粒，无需退火步骤。离子束在薄膜内诱导的局部加热导致银离子向外扩散至薄膜表面，从而形成较大纳米颗粒的突起。截面透射电子显微镜（XTEM）揭示了在SiO2薄膜不同深度处存在粒径介于2 nm-20 nm的多分散纳米颗粒（NPs）。正入射反射光谱在400 nm附近显示出双扭折特征，表明嵌入式NPs产生了强烈的局域表面等离激元共振（LSPR）。然而，由于双层干涉与LSPR的重叠，相关特征难以分离。借助传递矩阵模拟结合有效介质近似，澄清了将正确扭折归属于LSPR相关吸收的模糊性。该模拟进一步通过角度依赖反射测量得到验证。此外，传递矩阵模拟还用于计算沿薄膜深度的电场强度分布，其中预测在注入薄膜表面处存在增强的电场强度。
引用
@article{arxiv.1805.10576,
title = {Angle dependent localized surface plasmon resonance from silver nanoparticles embedded in SiO2 thin film},
author = {R. K. Bommali and D. P. Mahapatra and H. Gupta and Puspendu Guha and D. Topwal and G. Vijaya Prakash and S. Ghosh and P. Srivastava},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.10576},
year = {2018}
}
备注
9 pages,5 figures