左手材料平板成像特性的分析

本文研究了有吸收左手材料（LHM）平板的成像特性。对于线光源，给出了理想平板厚度限制的几何解释。对于有损平板，成像特性由波长、平板厚度、源到平板较近边界的距离以及吸收效应决定。改变这些量之间的比值，像宽可从波长尺度变化至亚波长尺度。在前一种情况下，能量密度主要集中于两个像点处。在后一种情况下，尽管焦平面上出现了亚波长宽度的像，但大部分能量位于平板两边界附近，且在边界外波幅呈指数衰减。还讨论了亚波长成像与不确定性原理之间的关系。