通过太赫兹辐射散射分析颗粒堆积结构

散射方法被广泛用于表征小长度尺度上的物质结构和成分。这促使了这篇介绍性文章，旨在识别基于散射的方法用于颗粒介质的潜在途径。文章概述了粒子及粒子系综的光散射。阐述了为什么使用 X 射线和可见光的既定散射方法通常不能直接移植到颗粒介质。重点介绍了使用太赫兹辐射的光谱测量，因为它们能够探测对堆积结构敏感的颗粒介质散射特性。讨论了为优化用于颗粒介质测量的光谱仪的实验细节。我们在 BessyII 储存环的太赫兹光束线上，使用傅里叶变换光谱学对静态和搅动颗粒介质进行了透射测量。这些测量证明了评估介质中有序程度以及追踪搅动颗粒介质中瞬态结构状态的潜力。