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$B^- \to D^0 D_s^-, D^0 D^-$ 衰变中直接 CP 破坏的分析

高能物理 - 唯象学 2010-05-28 v1

摘要

我们在标准模型内研究了在衰变模式 BD0DsB^- \to D^0 D_s^-D0DD^0 D^- 中观测直接 CP 破坏的可能性。包括来自树图、湮灭图、QCD 以及具有类时和类空分量的电弱企鹅图的贡献后,我们发现 BD0DsB^- \to D^0 D_s^- 中的直接 CP 不对称性非常小,约 0.2%,但在 BD0DB^- \to D^0 D^- 衰变中可高达 4%。对于后一种情况,实验观测 CP 不对称性参数大约需要 10710^7 个带电 BB 介子。由于这在当前正在运行的 B 工厂中很容易实现,衰变模式 BD0DB^- \to D^0 D^- 可用于寻找 CP 破坏。

关键词

引用

@article{arxiv.hep-ph/0105012,
  title  = {Analysis of direct CP violation in $B^- \to D^0 D_s^-, D^0 D^-$ decays},
  author = {A. K. Giri and R. Mohanta and M. P. Khanna},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ph/0105012},
  year   = {2010}
}

备注

Latex, 14 pages