利用 AMS-02 分析 branon 暗物质与额外维模型
高能物理 - 唯象学
2019-02-13 v2 宇宙学与河外天体物理
摘要
在以下工作中，我们计算了 branon 暗物质湮灭产生的正电子，以约束额外维理论。通过假设 AMS-02 测量的正电子份额仅由天体物理源很好地解释，我们得到了 branon 质量和膜张力这两个表征 branon 现象学的参数的排除图。我们的分析针对一个额外维中的最小和中等扩散模型，在赝等温和 Navarro-Frenk-White 两种暗物质晕下进行。我们对暗物质候选质量范围的约束在 200 GeV 到 100 TeV 之间。结合先前的宇宙学分析和对撞机实验数据，这使我们能够对 branon 的参数空间设定界限。特别地，对于赝等温轮廓和最小扩散模型，我们排除了质量-张力图中 branon 质量高达 28 TeV 的区域；对于 Navarro-Frenk-White 轮廓和中等扩散模型，则排除了高达 63 TeV 的区域。
引用
@article{arxiv.1709.09819,
title = {Analysis of branon dark matter and extra-dimensional models with AMS-02},
author = {Jose A. R. Cembranos and Alvaro de la Cruz-Dombriz and Peter K. S. Dunsby and Miguel Mendez-Isla},
journal= {arXiv preprint arXiv:1709.09819},
year = {2019}
}
备注
11 pages, 8 figures, 1 table, final version published in PLB. Minor changes. Conclusions unchanged