共同 CP 违背来源模型分析

我们研究了一个所有 CP 违背现象都有共同来源的模型。通过复数单色标量的相位在大尺度 $V$ 处自发破坏 CP。额外的 $SU(2)_L$ 单色向量型下型夸克将这种高尺度 CP 违背关联到低能。我们在夸克区定量分析该模型。对于 4\times4 下型夸克质量矩阵的一个特定猜想，其中最小生成弱相位，我们求出了拉格朗日参数的数值。$Z \bar b b$ 顶点在存在额外向量型下型夸克时将发生修改。根据 $Z\to \bar b b$ 衰变的实验下界，我们求出了额外下型夸克质量的下界。该模型因额外向量型下型夸克的存在而在树级出现 flavor changing neutral current。我们给出了 $B^0_q-{\bar B}^0_q$ 系统中质子间质量分裂 $\Delta m_{B_q}$ 的数值范围，综合考虑标准模型盒图、$Z$ 介导的树级和 $Z$ 介导的 one loop 图，对 $q=d, s$ 均适用。我们从标准盒图、$Z$ 和希格斯介导的 penguin 图中，对 $B^0_q-{\bar B}^0_q$ 系统 $q=d,s$ 给出 $\Gamma_{12}^q$ 的解析表达式。随后对衰减宽度差值 $|\Delta\Gamma_{B_q}/\Gamma_{B_q}|$ 进行数值评估。我们也给出了 $B^0_d\to J/\psi K_s$ 和 $B^0_d\to \pi^+ \pi^-$ 衰变中 CP 偏斜参数 $a_J$ 和 $a_\pi$ 的数值。我们通过强 CP 相位的上界求出尺度 $V$ 的下界。