一个扩展技术色模型
高能物理 - 唯象学
2010-11-01 v1
摘要
构建了一个扩展技术色模型。讨论了夸克和轻子质量、自发CP破坏以及精密电弱测量。利用BIG MAC的概念分析了动力学对称破缺。
引用
@article{arxiv.hep-ph/9311320,
title = {An Extended Technicolor Model},
author = {Thomas Appelquist and John Terning},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ph/9311320},
year = {2010}
}
备注
35 pages, Latex, YCTP-P21-93, BUHEP-93-23