Seyfert 1 星系 X 射线变率的扩展 RXTE 调查
天体物理学
2009-11-10 v1
摘要
对过去七年 RXTE 对 Seyfert 1 类活跃星系的监测进行了系统分析，得到五个均匀的 2-12 keV 光度序列样本，探测硬 X 射线在持续数天到约 3.5 年的时间尺度上的变率。包括 2-10 keV 在约 1 天时间尺度上的变率，如 ASCA 所探测的。所有源的 X 射线变率都随着更长的时间尺度而增强，但增幅对相对较高亮度源的增长更为显著。变率幅度与 X 射线亮度和黑洞质量呈反相关，但在较长时间尺度上，变率幅度会饱和并不再依赖于亮度或黑洞质量。数据与 Markowitz 等人(2003a)和 McHardy 等人(2004)所述的功率谱密度(PSD)移动模型相符，即 Seyfert 1 类星系的变率可由一个通用的 PSD 形状来描述，其分离频率随黑洞质量而变化。变率时间尺度、黑洞质量和 X 射线亮度之间的最佳拟合标度关系暗示该样本的平均吸积率约为 Eddington 限值的 5%。几乎所有源在相对柔和的 2-4 keV 波段都比 7-12 keV 波段表现出更强的变率，在所有时间尺度上都如此。有迹象表明，相对较不亮或较不质量的源在给定整体通量增加的情况下，呈现出更大的光谱变率。
关键词
引用
@article{arxiv.astro-ph/0409045,
title = {An Expanded RXTE Survey of X-ray Variability in Seyfert 1 Galaxies},
author = {Alex Markowitz and Rick Edelson},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0409045},
year = {2009}
}
备注
Accepted for publication in The Astrophysical Journal; 30 pages; 10 figures