扫描电子显微镜中绝缘体的异常衬度：分裂图像
材料科学
2016-04-18 v1
摘要
本文报道了当使用扫描电子显微镜配合钨探针观察绝缘体样品时，出现的一种称为双成像的异常衬度新现象。我们详细分析了该现象的产生过程，并讨论了附加探针对内部电场的影响，该影响导致了双成像的出现。
引用
@article{arxiv.1604.04407,
title = {An Anomalous Contrast of Insulators in Scanning Electron Microscope: The Split Image},
author = {Lilin Xie and Xiaona Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1604.04407},
year = {2016}
}
备注
9pages, 4 figures