一种降低产品开发风险的自适应设计方法
软件工程
2011-12-20 v1
摘要
嵌入式系统与环境的交互本质上使需求及其正确实现的理解变得复杂。然而,产品的不确定性在开发早期阶段最高。设计验证是任何系统开发中的关键步骤,尤其是对于嵌入式系统。本文介绍了一种新颖的自适应设计方法,该方法结合了逐步原型设计和验证。随着每个自适应步骤,产品实现水平得到提升,同时产品不确定性水平降低,从而降低总体成本。该框架的支柱是开发领域特定运行模型以及基于该模型开发的用于测试和评估的验证仪器。它们共同生成功能有效的测试序列,用于执行原型评估。通过一个案例研究“多模探测子系统”,勾勒了该方法的应用。可以通过定义和计算一个通用性能标准(如平均设计周期风险)来比较不同的设计方法。对于该案例研究,通过计算平均设计周期风险表明,自适应方法以总设计周期时间的小幅增加为代价,降低了产品开发风险。
引用
@article{arxiv.1112.4049,
title = {An Adaptive Design Methodology for Reduction of Product Development Risk},
author = {Hara Gopal Mani Pakala and Dr. Plh Varaprasad and Dr. Raju Kvsvn and Dr. Ibrahim Khan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1112.4049},
year = {2011}
}
备注
21 pages, 9 figures