AFIA：基于 ATPG 引导的针对安全逻辑锁定的故障注入攻击
密码学与安全
2022-10-14 v2
摘要
集成电路设计与制造的外包引发了对知识产权盗版和非法过量生产的严重担忧。逻辑锁定作为一种混淆技术应运而生，用于保护外包的芯片设计，其中电路网表被锁定，只有在编程安全密钥后才能正常工作。然而，基于布尔可满足性的攻击已被证明能够破解逻辑锁定，同时也促使研究者开发更安全的对策。在本文中，我们提出一种新颖的故障注入攻击来破解任何依赖存储密钥的锁定技术，并将该攻击记为 AFIA（ATPG 引导的故障注入攻击）。所提出的攻击基于将某一密钥位敏化到主输出端，同时在其他几个阻断目标密钥位传播的密钥线上注入故障。AIFA 在确定密钥位时非常有效，因为存在一种卡故障模式可检测任意密钥线上的卡在 1（或卡在 0）故障。AFIA 注入故障数的平均复杂度随密钥大小线性增长，且仅需 |K| 个测试模式即可确定密钥 K。与差分故障分析攻击 [26] 所需的 2|K|-1 个故障相比，AFIA 需要更少的注入故障来将一位敏化到主输出端。
引用
@article{arxiv.2206.04754,
title = {AFIA: ATPG-Guided Fault Injection Attack on Secure Logic Locking},
author = {Yadi Zhong and Ayush Jain and M. Tanjidur Rahman and Navid Asadizanjani and Jiafeng Xie and Ujjwal Guin},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.04754},
year = {2022}
}
备注
arXiv admin note: text overlap with arXiv:2007.10512