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全切片图像分析中多重实例学习的进展:技术、挑战与未来方向

计算机视觉与模式识别 2024-08-20 v1 机器学习

摘要

全切片图像(WSIs)是广泛用于病理学的H&E染色组织样本的十亿像素级数字图像。WSIs的庞大尺寸和复杂性带来了独特的分析挑战。多重实例学习(MIL)已成为应对这些挑战的强大方法,特别是在癌症分类和检测方面。本综述全面概述了将MIL应用于WSI分析所面临的挑战和方法,包括注意力机制、伪标签、Transformer、池化函数和图神经网络。此外,它探讨了MIL在发现癌细胞形态、构建可解释机器学习模型和量化癌症分级方面的潜力。通过总结MIL在WSI分析中的当前挑战、方法和潜在应用,本综述旨在让研究人员了解该领域的现状并激发未来的研究方向。

关键词

引用

@article{arxiv.2408.09476,
  title  = {Advances in Multiple Instance Learning for Whole Slide Image Analysis: Techniques, Challenges, and Future Directions},
  author = {Jun Wang and Yu Mao and Nan Guan and Chun Jason Xue},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2408.09476},
  year   = {2024}
}