基于自适应光学的米勒森干涉仪用于窄带光源光谱

自适应光学技术使干涉仪基光谱仪无需扫描干涉仪臂即可实现。本文采用米勒森干涉仪结合空间光调制器（SLM）对窄带光源的光谱轮廓进行测量。有趣的是，我们观察到即使为SLM提供恒定相位轮廓，干涉仪输出束的条纹在波长上本质上被偏移。我们通过在干涉仪条纹图案的不同位置测量入射光谱来校准条纹的光谱偏移，并观察到光谱峰迹出一条"茶匙"形状，其宽度取决于光源的光谱带宽、干涉仪两臂的相对倾斜角和路径差，以及光束的发散度。随后，我们演示了这些条纹固有的光谱变化可用于对窄带光源进行快速单快门光谱测量，而对SLM提供时变相位轮廓则可实现低噪声、高分辨率和更佳对比度的多步光谱测量。我们的发现表明，米勒森干涉仪可用于从条纹图案的简单图像中对特定光谱范围内的任何光源进行光谱测量，以促进向高光谱成像的激动应用。