存在系统偏差时基于模拟推断的精确X射线计时
天体物理仪器与方法
2021-12-22 v2 高能天体物理现象
摘要
由于我们的许多X射线望远镜针对观测暗源进行了优化，对爆发中的X射线双星等亮源的观测常受仪器偏差影响。这些效应包括死时间与光子堆积，它们会显著改变从这些观测中对物理参数的统计推断。虽然死时间在统计上难以一致地考虑，但模拟受死时间影响的数据通常很直接。这种结构使得从受死时间影响的观测推断物理性质的问题落入许多科学学科中常见的一类问题。在密度估计与统计机器学习新发展的辅助下，以基于模拟推断（SBI）为名解决它们的方法日益增多。在本文中，我们引入SBI作为一种从受死时间影响的光变曲线推断变率性质的原则性方法。我们使用序贯神经后验估计来估计变率性质的后验概率。我们表明，即使死时间是变化的，该方法也能在模拟数据上恢复变率参数，并给出了该方法应用于NuSTAR对银河系黑洞X射线双星GRS 1915+105观测的结果。
引用
@article{arxiv.2104.03278,
title = {Accurate X-ray Timing in the Presence of Systematic Biases With Simulation-Based Inference},
author = {D. Huppenkothen and M. Bachetti},
journal= {arXiv preprint arXiv:2104.03278},
year = {2021}
}
备注
21 pages, 24 figures; accepted for publication in MNRAS; code available at https://github.com/dhuppenkothen/DeadTimeSBI and data products at http://doi.org/10.5281/zenodo.4670161