利用偏振层析准确测量96%的腔输入耦合效率

柱状微腔是优异的光-物质接口，能在小模式体积中以高品质因子实现电磁约束。它们还允许以潜在近统一的输入和输出耦合效率，高效地将光子注入和提取出腔体。优化输入和输出耦合至关重要，特别是在由单入射光子操控人工原子的固态量子网络开发中。在此我们提出一种利用腔反射光的偏振层析来准确测量输入和输出耦合效率的技术。我们利用柱状微腔的残余双折射来区分耦合到腔中的光与未耦合的光：前者参与旋转反射光束的偏振，而后者降低偏振纯度。将该技术应用于微柱腔，我们以空前精度测得 $53 \pm2 \%$ 的输出耦合与 $96 \pm 1\%$ 的输入耦合。