场离子显微镜中化学衬度的精确计算
材料科学
2023-06-28 v2
摘要
我们提出一种计算方法来模拟场离子显微镜（FIM）中观测到的局域衬度。该方法基于密度泛函理论，采用扫描隧道显微镜（STM）中使用的Tersoff-Hamann方法。一项关键要求是高度精确地计算表面态波函数尾部。为精化标准迭代全局求解器得到的Kohn-Sham态，我们引入并讨论了通过反向积分算法外推尾部（EXTRA）。利用类Numerov算法通过反向积分（由外向内）获得衰减尾部，然后迭代调整起始条件以匹配近表面平面波Kohn-Sham波函数的值。我们通过分析并展示Ni表面Ta的化学衬度，证明了所提算法的性能。
引用
@article{arxiv.2212.10910,
title = {Accurate computation of chemical contrast in field ion microscopy},
author = {Shalini Bhatt and Shyam Katnagallu and Jörg Neugebauer and Christoph Freysoldt},
journal= {arXiv preprint arXiv:2212.10910},
year = {2023}
}
备注
submitted to Phys. Rev. B