毫电荷粒子的直接探测极限

H. Gies; J. Jaeckel; A. Ringwald

doi:10.1209/epl/i2006-10356-5

毫电荷粒子的直接探测极限

高能物理 - 唯象学 2009-11-11 v1 高能物理 - 实验

作者: H. Gies , J. Jaeckel , A. Ringwald

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摘要

我们研究了空腔中毫电荷粒子（millicharged particles）的探测。即使没有直接的探测机制，如果这些假想粒子存在，它们也会通过能量损失在空腔的品质因数上留下印记。保守估计已经显著约束了这些假想粒子的电荷；由此产生的界限与目前最好的实验室界限相当，后者来自基于偏振激光在磁场中传播的实验。我们提出了一种实验装置，用于测量由空腔中产生的毫电荷粒子组成的电流。

关键词

millicharged particles cavity quality factor energy loss electric charge bounds polarized laser light magnetic field experimental setup

引用

@article{arxiv.hep-ph/0608238,
  title  = {Accelerator Cavities as a Probe of Millicharged Particles},
  author = {H. Gies and J. Jaeckel and A. Ringwald},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ph/0608238},
  year   = {2009}
}

备注

7 pages, 2 figures, cool.cls

毫电荷粒子的直接探测极限

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关键词

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