用于国家点火装置的时间分辨高分辨率 X 射线光谱仪的绝对校准（特邀）

一台基于诊断仪器操纵器（DIM）的高分辨率 X 射线布拉格晶体光谱仪已在国家点火装置（NIF）上完成校准并部署，用于诊断接近停滞时间的点火靶丸中的等离子体条件。该光谱仪在 Hall 几何结构中包含两个锥形晶体，将来自 Kr He$\alpha$、Ly$\alpha$ 和 He$\beta$ 复合体的射线聚焦到条纹相机上，其物理目标是通过观察 Stark 展宽和双电子卫星线的相对强度来测量时间分辨的电子密度和温度。第三个 von H\'amos 晶体对 Kr He$\alpha$、He$\beta$ 及其间的能量范围进行时间积分，为条纹相机信号提供原位校准。该光谱仪已使用微焦点 X 射线源、一系列 CCD 和单光子计数探测器以及多个 K 和 L 吸收边滤波器在普林斯顿等离子体物理实验室（PPPL）X 射线实验室进行了绝对校准。文中讨论了每个晶体的积分反射率、能量范围和能量分辨率的测量。这些校准数据为 NIF 测量提供了绝对的 X 射线信号水平，从而实现精确的滤波器选择和与模拟的比较。