荧光显微镜大视场中的像差测量与校正

由样品和/或样品载具引起的像差限制了光学显微镜的分辨率。可使用变形镜结合无波前传感器优化算法实现波前校正,但尽管这些系统复杂,校正水平通常仅限于显微镜视场中的小区域。在本工作中,我们提出了一个用于像差测量与校正的即插即用模块。波前校正通过旋转光瞳像差测量进行直接波前重建,并闭环控制变形透镜来实现。该透镜校正视场中心的像差,留下边缘处的残余像差,这些残余像差通过非等晕反卷积去除。我们展示了在荧光显微镜、宽场显微镜和光片荧光显微镜下获得的实验结果。这些结果表明,在荧光显微镜探测光路中放置一个紧凑的透射模块,即可实现全视场的探测与校正。