XTE J1118+480 谱图中极弱反射特征：可能的 X射线发射喷流证据

我们对同时拟合 Chandra 和 RXTE 谱图的 XTE J1118+480 使用三种 X射线反射模型。我们探索了accretion盘离子化程度(log(xi)=1-4; xi=L_X/nR^{2})和铁元素丰度(0.10-1.00)的范围。我们使用 Ross & Fabian 的常密度离子化盘模型拟合结果表明，观察到的flux的反射量不足 0.5% (以 90% 置信区间上限)。使用 Magdziarz & Zdziarski 的 "pexrav" 模型拟合表明，相对于来自中心hard X射线源的disc的二维固体角(Omega/2pi)为 0.01 +0.06 -0.01。高倾角(i=81 degrees)、Compton化和bulk速度可能各自 contribute to 我们测量的低反射分数。结果也与extended jets 作为hard X射线flux的来源相一致，disc 然后仅代表一个较小的固体角，如从发射区域所见。