电磁侧信道攻击综述及其在数字取证中推进案件潜力的讨论
密码学与安全
2021-08-23 v1
摘要
物联网（IoT）设备的日益普及使得它们在可预见的未来与数字取证调查的相关性必然增加。各厂商生产的这些设备通常具有有限的通信标准接口，例如 USB 端口或 WiFi/蓝牙无线接口。同时，随着主流对用户数据安全和隐私的日益关注，内置加密在消费级计算设备中变得普遍，IoT 设备也不例外。在这种情况下，需要对来自 IoT 设备的数据进行分析的数字取证调查面临重大挑战。本工作探索电磁（EM）侧信道分析文献，以协助针对 IoT 设备的数字取证调查。EM 侧信道分析是一种利用非故意电磁发射来窃听计算设备操作与数据处理的技术。EM 侧信道方法的非侵入性使其可成为协助数字取证调查的可行选项，因为这些攻击需要且必须导致对目标设备无任何修改。文中讨论了各种 EM 侧信道分析攻击技术的文献——选取基于其在 IoT 设备调查场景中的适用性。背景研究获得的见解被用于确定该技术在 IoT 设备数字取证分析中具前景的未来应用——可能推进多种当前受阻的数字调查。
引用
@article{arxiv.1903.07703,
title = {A Survey of Electromagnetic Side-Channel Attacks and Discussion on their Case-Progressing Potential for Digital Forensics},
author = {Asanka Sayakkara and Nhien-An Le-Khac and Mark Scanlon},
journal= {arXiv preprint arXiv:1903.07703},
year = {2021}
}
备注
Digital Investigation (2019)