利用下变频器测试电子学在FLASH三次谐波3.9 GHz超导加速腔中束流激发偶极高阶模的束流位置诊断研究
加速器物理
2012-08-13 v1
摘要
加速腔中束流激发的高阶模（HOM）包含横向束流位置信息。先前的研究为FLASH三次谐波3.9 GHz腔中的束流位置诊断缩小了三种模态选项。在束流管中约4.1 GHz的局域模和第五腔偶极带中约9 GHz的模被发现可以提供束流位置的局域测量。相比之下，第一和第二偶极带中4.2至5.5 GHz之间的传播模可以达到更好的分辨率。所有选项都使用费米实验室专门设计的测试电子学进行了评估。目的是确定适合HOM电子学的模式或频谱区域。使用两种数据分析技术（直接线性回归和奇异值分解）从偶极HOM中提取束流位置信息并进行比较。当前实验表明，使用第五偶极带中的模预测局域束流位置的分辨率精度为50微米，整个模块的全局分辨率为20微米。基于这些结果，我们决定为第二偶极带和第五偶极带构建HOM电子学，这样我们将同时拥有整个模块的高分辨率测量和单个腔的局域测量。原型电子学正在由费米实验室构建，计划于2012年底在FLASH进行测试。
引用
@article{arxiv.1208.2122,
title = {A Study of Beam Position Diagnostics with Beam-excited Dipole Higher Order Modes using a Downconverter Test Electronics in Third Harmonic 3.9 GHz Superconducting Accelerating Cavities at FLASH},
author = {P. Zhang and N. Baboi and N. Eddy and B. Fellenz and R. M. Jones and B. Lorbeer and T. Wamsat and M. Wendt},
journal= {arXiv preprint arXiv:1208.2122},
year = {2012}
}
备注
DESY Report