配备伪随机测试图案生成器和多输入移位寄存器的内建自测试仿真实验
硬件体系结构
2011-02-07 v1
摘要
本文研究了特征多项式和初始加载的变化，对用于基于LFSR的数字电路测试技术中的并行签名分析器(多输入移位寄存器)的混叠错误行为的影响。该研究通过对基于LFSR的数字电路测试技术的有效性进行广泛的仿真研究来开展。研究结果表明，当在伪随机测试图案生成器和多输入移位寄存器(MISR)签名分析器(并行类型)中使用相同的n阶特征多项式时，由于伪随机测试图案生成器初始加载的变化，混叠错误的概率保持不变。
引用
@article{arxiv.1102.0884,
title = {A Simulation Experiment on a Built-In Self Test Equipped with Pseudorandom Test Pattern Generator and Multi-Input Shift Register (MISR)},
author = {A. Ahmad},
journal= {arXiv preprint arXiv:1102.0884},
year = {2011}
}
备注
12 pages,2 figures, Journal