原子多电子过程的实用理论形式：单次 Auger 衰变或单个电子/光子碰撞导致的直接多重电离
原子物理
2018-04-18 v1
摘要
多电子过程广泛存在于原子、分子、团簇和凝聚态物质与高能粒子或强激光场相互作用的过程中。在本工作中，基于由相关多体 Green 函数描述的原子碰撞理论，提出了一种统一且准确的理论形式，用于处理原子的直接多电子过程，包括多重 Auger 衰变以及高能电子或光子碰撞导致的多重电离。由于初态和末态中粒子（物质波）的不同相干特性，这种实用的处理方法成为可能。我们首先以电子碰撞直接双重电离过程为例，解释了出射连续电子的相干特性是如何在很大程度上被破坏的。该过程与能够保持完全干涉的单电离过程完全不同。根据敲出和抖落机制的分离，针对电子碰撞直接双重电离、直接双重和三重 Auger 衰变以及双重和三重光电离过程，获得了连续电子之间能量关联的表达式以及能量分辨的微分和积分截面。该方法被用于研究 C、N 和 O 的电子碰撞双重电离过程，C 和 K 壳层激发态的直接双重和三重 Auger 衰变，以及锂的双重和三重光电离。与现有实验和理论结果的比较表明，我们提出的理论形式在处理原子多电子过程方面是准确且有效的。
引用
@article{arxiv.1709.08796,
title = {A practical theoretical formalism for atomic multielectron processes: direct multiple ionization by a single Auger decay or by impact of a single electron or photon},
author = {Pengfei Liu and Jiaolong Zeng and Jianmin Yuan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1709.08796},
year = {2018}
}
备注
24pages, 12 figures