一种测定压缩超导材料电阻率的新方法

超导体在其正常态下的电阻率对于确定其超导基态起着关键作用。然而，由于压力引起的晶体学方向变化，测量材料在高压下的电阻率长期以来一直是一个重大的技术挑战，特别是对于具有各向异性层状结构的样品，如高温超导体和其他有趣的量子材料。在此，我们首次提出了一种新颖且有效的高压电阻率测定方法，该方法依赖于同一一样品测得的常压电阻率、初始样品尺寸、晶格参数、高压电阻以及晶格参数。通过对加压铜氧化物超导体的研究，我们证实了该方法的有效性，研究表明该方法为从事这些材料高压电阻率相关研究的研究人员提供了新的可能性。