高分辨率 X 射线光谱中高本底下谱线发射探测的新方法

我们开发了一种新的统计方法，用于在高本底存在的情况下识别高分辨率光谱中的发射特征或设定上限。该方法依赖于利用光滑检验探测与本底的差异，并利用经典似然比检验来刻画已知形状如发射谱线。我们在考虑多重比较问题的同时进行信号探测或对谱线通量设定上限。我们将该方法应用于 Chandra LETGS+HRC-S 对共生星 RT Cru 的观测以说明其效果，成功探测到先前已知的诸如 6-7 keV 范围内 Fe 线发射以及由 Chandra 镜面镀膜引起的铱吸收边等特征。我们搜寻来自 Ne X、Fe XVII、O VIII 和 O VII 的热发射线，但未探测到，并设定了与 $\approx$1 keV 等离子体一致的通量强度上限。我们偶然探测到一条位于 16.93 $\unicode{x212B}$ 的谱线，将其归因于光致电离或反射成分。