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一种用于短基线电子反中微子消失研究的新方案

仪器与探测器 2017-09-13 v3 核实验

摘要

研究了一种用于短基线电子反中微子(νˉe{\bar{\nu}}_{e})消失研究的新方案。我们提议使用强中子发射体252^{252}Cf,它通过7^{7}Li(n,γ\gamma)8^{8}Li反应产生8^{8}Li同位素;8^{8}Li通过β\beta^{-}衰变发射νˉe{\bar{\nu}}_{e}。由于该νˉe{\bar{\nu}}_{e}源既不需要加速器也不需要反应堆设施,可将νˉe{\bar{\nu}}_{e}源尽可能靠近地放置于任何中微子探测器上。这种具有合适探测器的短基线环境使我们能够研究可能存在的惰性中微子,特别是在1 eV质量尺度上。此外,利用8^{8}Li源产生的νˉe{\bar{\nu}}_{e},不同中微子探测器之间的互补比较研究也变得可行。作为一个例子,详细应用于半球形和圆柱形闪烁体探测器,并考虑惰性中微子引起的预期信号修正。还给出了对惰性中微子质量和混合角的灵敏度,以便与其他中微子实验进行比较。

关键词

引用

@article{arxiv.1605.00642,
  title  = {A new scheme for short baseline electron antineutrino disappearance study},
  author = {Jae Won Shin and Myung-Ki Cheoun and Toshitaka Kajino and Takehito Hayakawa},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1605.00642},
  year   = {2017}
}