一种用于射电干涉仪交叉极化延迟校准的新方法

射电干涉仪可以通过交叉相关每个天线处两个正交极化的所有组合来测量入射波的完整偏振态。用于检测两种偏振态的独立电子学系统会在两个数据流之间引入仪器差分延迟。通常对平行手性可见度集进行单独校准的技术，仍然允许两个平行系统之间存在任意的群延迟和相位偏移。为了使用交叉极化可见度，必须确定并消除这种仪器偏移。本文描述了一种此类技术，并探讨了其在 Obit 软件包中的应用。该技术已成功应用于部分 EVLA 数据，使用了强偏振和弱偏振校准源。