利用计时和高分辨率 X 射线光谱测量黑洞二进制系统质量的方法

在 X 射线二元星系统中，紧凑天体的一部分光度被正常伴星表面吸收并通过 Compton 反射和 K 荧光再辐射。这反射辐射遵循紧凑天体的变化，延迟约等于轨道半径除以光速。这提供了测量轨道半径的可能性，从而大大改进了使用仅光学数据确定紧凑天体质量的能力。我们演示了使用在 K 线附近和 neutral iron K 边以上观测到的光曲线进行的交叉相关来测量直接和反射辐射之间的时延是可行的。在 Cyg X-1 的情况下，使用一项有效面积为 1000 cm^2 且能量分辨率为 ~5eV 的望远镜进行 300--1000 ksec 观测是可行的。通过更长的曝光，可能即使在 X 射线源 lacks optical counterpart 的情况下也能获得质量约束。