一种用于轴向超分辨的基于学习的视图外推方法
图像与视频处理
2021-03-12 v1 计算机视觉与模式识别
摘要
轴向光场分辨率是指通过重聚焦区分不同深度特征的能力。轴向重聚焦精度对应于两个可区分重聚焦平面之间的最小轴向距离。高重聚焦精度对于一些光场应用（如显微术）至关重要。在本文中，我们提出一种基于学习的方法，从剪切后极线平面图像（EPIs）的轴向体数据中外推新视图。如同经典成像中扩展数值孔径（NA），外推的光场给出景深（DOF）更浅的重聚焦图像，从而获得更精确的重聚焦结果。最重要的是，所提方法不需要精确的深度估计。基于合成与真实光场的实验结果表明，该方法不仅适用于由光场相机（尤其是光场 1.0 相机）捕获的小基线光场，也适用于更大基线的光场。
引用
@article{arxiv.2103.06510,
title = {A learning-based view extrapolation method for axial super-resolution},
author = {Zhaolin Xiao and Jinglei Shi and Xiaoran Jiang and Christine Guillemot},
journal= {arXiv preprint arXiv:2103.06510},
year = {2021}
}