TES X 射线微热量计的高线性校准度量

过渡边传感器（TES）X 射线微热量计通常凭经验校准，因为最广泛使用的校准度量——最优滤波脉冲幅度（OFPH）——一般对光子能量 $E_{\gamma}$ 具有未知依赖关系。由于校准函数只能在可产生已知能量光子的特定点测量，这种 OFPH 对 $E_{\gamma}$ 的未知依赖导致校准误差，并需要耗时的校准测量与分析。一种近乎随 $E_{\gamma}$ 线性的校准度量可帮助缓解这些问题。本工作中，我们评估一种基于物理动机的校准度量 $E_{Joule}$ 的线性度。我们在 4.5 keV$<$$E_{\gamma}$$<$9.6 keV 范围内以针对 6 keV 光子优化的探测器测量校准脉冲，以比较 $E_{Joule}$ 与 OFPH 的线性性质。在这些测试数据集中，我们发现 $E_{Joule}$ 对线性函数的拟合优于 OFPH 一个数量级。此外，使用 $E_{J}$（$E_{Joule}$ 的优化版本）的校准函数在数据的 2–3 eV 噪声范围内是线性的。