直轴与曲轴系统中带电粒子光学的哈密顿力学框架
光学
2021-06-16 v2 加速器物理
摘要
带电粒子光学描述粒子在某些光学轴附近的轨迹，刻画粒子光学器件的成像性质。此处，我们给出利用哈密顿力学微扰展开的完整而紧凑的带电粒子光学描述。所推导框架可直截了当地计算具有直轴和曲轴的静态与动态光学器件的横向与纵向（色差）性质。它进一步导出保持辛相空间结构与拉格朗日不变量的几何积分格式，可用于推导像差系数的解析近似与高效数值轨迹求解器。
引用
@article{arxiv.2104.00377,
title = {A Hamiltonian Mechanics Framework for Charge Particle Optics in Straight and Curved Systems},
author = {Felix Kern and Jonas Krehl and Arsha Thampi and Axel Lubk},
journal= {arXiv preprint arXiv:2104.00377},
year = {2021}
}