MeV 双能 X 射线成像系统中一种基于曲线的材料识别方法
仪器与探测器
2014-12-01 v1
摘要
高能双能 X 射线数字射线照相 (DR) 成像主要用于货物检查中的材料识别。我们介绍了该技术的发展历史和原理，并描述了我们系统的数据处理流程。该系统校正原始数据以获得双能透射图像。图像中所有点的材料类别通过与 X 射线能谱相关的分类曲线进行识别。对于分类曲线的校准，我们的策略包括旨在提高分类精度的基础曲线校准和实时校正。应用图像分割和去噪方法以平滑图像。彩色化后的图像包含更多信息。一些结果表明，我们的方法达到了预期效果。
引用
@article{arxiv.1411.7742,
title = {A Curve-based Material Recognition Method in MeV Dual-energy X-ray Imaging System},
author = {Zhi-qiang Chen and Tiao Zhao and Liang Li},
journal= {arXiv preprint arXiv:1411.7742},
year = {2014}
}
备注
7 pages, 6figures