中子瓶异常的一种复合模型解释

被囚禁在瓶中的中子寿命测量值一直短于中子束实验中的寿命测量值。由于囚禁势低至 50 neV 且中子探测器仅位于瓶顶，这一差异可能是暗物质与中子发生软散射的结果。然而，在传统的暗物质散射模型中很难获得观测到的损失率。我们表明，在复合暗物质模型中这一现象是可能的，其中软散射来自已被地球俘获并累积的暗物质。该解释可通过在陷阱周围放置更多中子探测器以提供更好的角度覆盖来验证。被囚禁复合暗物质软散射的现象学具有普适性，并提示了可用于探测这一类模型的新实验方向。