Seyfert 2 galaxies 的三维诊断图：探讨 X 射线吸收与康普顿厚度
天体物理学
2019-08-17 v1
摘要
我们提出并讨论了用于 Seyfert 2 星系的“三维”诊断图，通过大量天体的 X 射线和 [OIII] 数据获得（附录中详述）。该图显示了 K 线铁线等效宽度随着由光电截止处推导的柱列密度以及经归一化的 2-10 keV 总 flux 与 [OIII] 光学线 flux 比值（后者已校正灰尘，假定为源内固有亮度的可靠指示器）的关系。我们发现，类型 2 天体的硬 X 射线性质仅取决于单个参数——沿视线的吸收柱列密度，符合统一模型。该诊断图可用于识别康普顿厚源，并用于孤立和研究特殊天体。通过此分析，我们获得了 Seyfert 2 星系的柱列密度分布，认为其为真实分布的良好近似。发现大量深度吸收天体，其中许多为康普顿厚候选者。我们的结果表明，类型 2 Seyfert 中 log N_H/cm^(-2) 的平均值为 23.5，且最多有 23-30% 的天体的 N_H 超过 10^24 cm^(-2)。
关键词
引用
@article{arxiv.astro-ph/9811074,
title = {A 3 dimensional diagnostic diagram for Seyfert 2s: probing X-ray absorption and Compton thickness},
author = {L. Bassani and M. Dadina and R. Maiolino and M. Salvati and G. Risaliti and R. Della Ceca and G. Matt and G. Zamorani},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/9811074},
year = {2019}
}
备注
33 pages, 3 figures, to be published in ApJ Supp